久益斷路器綜合特性測試儀(yi) 結構原理

    斷路器綜合特性測試儀(yi) 的總體(ti) 結構主要包括微處理器、交/直流輸入轉換、模/數轉換、識別電路、精密時基電路以及人機友好界麵顯示等部分，在硬件平台的基礎上，配備*的軟件編輯，囊括了計算機技術、數字信號處理技術、檢測技術等，能夠高效的完成對高壓開關(guan) 動特性測試儀(yi) 電量輸出參量、開關(guan) 動作時間參量等功能的校驗工作。

    由總體(ti) 結構圖可知，該主要通過兩(liang) 個(ge) 處理通道來完成校驗任務。一個(ge) 是將電壓信號輸出送到衰減電路中，然後再送入A/D轉換電路中，通過光耦再送到MCU中進行運算處理，後通過LCD顯示結果，從(cong) 而完成對高壓開關(guan) 動特性測試儀(yi) 電量參量的校驗。另外一個(ge) 開關(guan) 動作信號通過輸入電路調整為(wei) 本電路相匹配的信號，然後輸送到識別電路，轉換成MCU可以識別出的數字信號，經過光耦後由MCU進行運算處理，對處理後的結果執行相應動作，然後對外輸出控製信號，以完成對開關(guan) 動作時間參量的校驗。人機友好界麵主要包括液晶顯示器和操作按鍵。

 斷路器綜合特性測試儀(yi) 采用的是ARM控製配合CPLD芯片產(chan) 生高精度、寬範圍的定時信號，並能模擬高壓斷路器的動作，可用於(yu) 校驗和檢測高壓斷路器動態特性測試儀(yi) 的時間基準，用於(yu) 校驗高壓開關(guan) 測試儀(yi) 時間測量功能。

 久益斷路器綜合特性測試儀(yi) 技術指標：

1. 時間測量：12路

             固有分閘（合閘）時間

             分閘（合閘）相內(nei) 不同期

             分閘（合閘）相間不同期

             合閘（分閘）彈跳時間（彈跳次數）

2. 測試範圍：0.01ms～10000ms

3. 準 確 度：1ms～100ms內(nei) 準確度0.1%±2個(ge) 字，

             大於(yu) 100ms準確度0.5%±2個(ge) 字

4. 速度測量：剛分（剛合）速度

             時間段（行程段或角度段）平均速度

5. 測速範圍：1mm傳(chuan) 感器 0.01～25.00m/s，

0.1mm傳(chuan) 感器 0.001～2.50m/s，

360°角度傳(chuan) 感器0.01～25.00m/s

6. 行程測量：動觸頭行程（行程）

         接觸行程（開距）

          過衝(chong) 行程或反程（超程）

7. 傳(chuan) 感器測量範圍：直線位移傳(chuan) 感器50mm，分辨率:0.1mm，行程0.1～50mm

   直線位移傳(chuan) 感器300mm，分辨率:0.1mm，行程10～300mm（選配）

   直線位移傳(chuan) 感器500mm，分辨率:1mm，行程10～500mm（選配）

   360線傳(chuan) 感器：360°,分辨率:0.25°,行程1mm～1000mm     

8. 電流測量：顯示電流為(wei) 分（合）閘線圈的大電流值

9. 顯 示 屏：320×240液晶屏，對比度可調

10. 數據存儲(chu) ：可存儲(chu) 100組測量數據

11. 打 印 機：高速熱敏打印機

12. 儀(yi) 器電源：AC/DC 220V ± 10%；50Hz ± 2%

13. 直流電源

1) 輸出電壓：25～265V連續可調

2) 輸出電流：≤ 20A(短時)

14. 主機體(ti) 積：360×250×140mm

15. 使用環境：-10℃~+50℃

16. 相對濕度：≤90%

使用注意事項：

1、高壓開關(guan) 動特性測試儀(yi) 脈衝(chong) 輸出方式，目的是為(wei) 了檢測本儀(yi) 器是否準確，要求輸出端不能短路，不能和其它任何有源輸出端口相連接。否則容易損壞輸出端。

2、當使用有源內(nei) 觸發功能時，有源觸發端將有110伏左右的觸發電壓輸出，注意有源觸發端不能短路，且嚴(yan) 禁用手觸碰。

3、行程速度校準平台采用磁懸浮技術，具有強磁，所以嚴(yan) 禁將鐵製物品放置在電機定子附件，一旦被吸入將損壞電機。