一些電纜具有電氣部件，例如集成電路，二極管，電容器和電阻器。在高壓電阻測試期間，直流高壓發生器可以同時提高組件或電路所有分支上的電壓，從(cong) 而使兩(liang) 端都看不到電壓差。測試技術人員應檢查測試程序，以確保其正確考慮了敏感組件。

為(wei) 什麽(me) 限製電流和電荷？

　　在高壓測試期間，直流高壓發生器將高壓施加到被測設備的每個(ge) 連接器觸點或互連網絡，同時將其他連接保持在地麵上。在介電耐壓（DWV）測試期間，直流高壓發生器會(hui) 監視電流的突然尖峰，該尖峰表明電弧或其他突然擊穿情況。如果電流水平超過電流跳閘設置（也稱為(wei) DWV閾值電流設置），則直流高壓發生器會(hui) 立即關(guan) 閉電壓並使被測設備失效。在絕緣電阻（IR）測試期間，測試儀(yi) 會(hui) 切換到較低的電流範圍，以準確測量高水平的絕緣電阻。同樣，測試儀(yi) 會(hui) 立即關(guan) 閉高電壓，而電流不會(hui) 明顯上升或出現小尖峰。

　　某些測試規格可能會(hui) 允許比測試儀(yi) 支持的電流更高的電流。較低的電流閾值是更嚴(yan) 格的規格。一些客戶一直擔心拒絕合格的電纜，因為(wei) 他們(men) 無法將跳閘電流設置設置為(wei) 測試規範允許的最大值。但是，實踐表明，當使用較低的電流水平時，良好的電纜不會(hui) 被拒絕。無需讓電流尖峰繼續。一旦發生電弧或擊穿，電流將增大，直到達到電流閾值為(wei) 止，無論電流閾值設置在何處。

　　為(wei) 什麽(me) 某些耐壓測試儀(yi) 允許更高的電流閾值？一些耐壓測試儀(yi) 被設計為(wei) 具有破壞性的耐壓測試功能，其中超過絕緣子的絕緣電壓強度並在延長的擊穿期內(nei) 進行監控。當超過介電強度時，高電流會(hui) 產(chan) 生熱量，這又可以評估高溫的潛在破壞作用。在其他情況下，耐壓測試儀(yi) 具有較高的電流限製，以適應測量係統中的噪聲。一些人建議較高的測試電流閾值可用於(yu) “吹高電阻短路"。盡管這可能可行，但工程師建議在高電流條件下更可能發生損壞。應該始終從(cong) 根本上診斷並糾正該錯誤。

　　具有靜電電容網的電纜和導體(ti) （例如，很長的電纜）在進行耐壓測試時也需要更高的電荷和電流限製。當高電容網絡上的電壓快速升高時，即使該網絡與(yu) 其他網絡電氣隔離，也會(hui) 有電流湧入。在直流耐壓測試中可以增加電壓斜坡時間，從(cong) 而使測試儀(yi) 可以在不產(chan) 生大電流的情況下將淨值提高到耐壓電壓。但是，根據公式Q=cv，隨著電容的增加，帶有電容c的網絡上的內(nei) 部電荷Q也會(hui) 增加。請注意，如果電荷不受限製，則在高壓故障期間，電纜中存儲(chu) 的能量可能會(hui) 產(chan) 生破壞性的大電流。在交流耐壓測試中，電壓隨交流頻率變化。因此，測試時需謹慎。

　　高壓測試的高壓設置應選擇低於(yu) 被測組件的實際絕緣擊穿電壓。請注意，實際的絕緣擊穿電壓通常遠高於(yu) 組件的額定或工作電壓。

　　一遍又一遍地反複進行失敗的耐壓測試，不被視為(wei) 良好的行業(ye) 慣例。在這種情況下，每次發生高壓電弧時，壞電纜可能會(hui) 變得更糟。可能需要重新運行耐壓測試以診斷錯誤。雖然反複出現的低電流電弧極不可能造成yong久性損壞，但應調查一下HIPOT故障的原因。一旦您相信自己已解決(jue) 了警惕性錯誤，就必須重新運行警惕性測試以確保糾正了警惕性錯誤。

　　當某個(ge) 組件出現故障時，施加測試電壓將導致放電破壞或性能下降。由於(yu) 過多的泄漏電流而導致的劣化可能會(hui) 改變電氣參數或物理特性。

　　我們(men) 有時看到耐壓測試可能一次失敗，然後在不對被測設備進行任何更改的情況下再次失敗的情況。這表明半導體(ti) 元件已經消散，換句話說，耐壓測試表明電纜質量良好。但是請注意，當電纜通過耐壓測試時，由於(yu) 直流高壓發生器的電流和電荷有限，因此不會(hui) 產(chan) 生負麵影響。的確，如果高壓電壓施加不當，放電會(hui) 損壞靜電敏感組件。但是，從(cong) 一個(ge) 絲(si) 網到另一絲(si) 網的正常放電不會(hui) 產(chan) 生足夠的熱量來損壞絕緣子。

　　注意事項尤其是在工廠質量一致性測試中，應謹慎使用介電耐壓測試，因為(wei) 即使小於(yu) 擊穿電壓的超電勢也可能會(hui) 損壞絕緣，從(cong) 而降低其安全係數。因此，不建議在同一樣品上重複施加測試電壓。如果在測試程序中規定了隨後施加測試電位的情況，建議以降低的電位進行後續測試。